X熒光光譜儀_天瑞儀器 返回列表頁

X熒光光譜儀屬于的分析檢測儀器，隨著半導(dǎo)體微電子技術(shù)和計算機技術(shù)的飛速發(fā)展，傳統(tǒng)的光學(xué)、熱學(xué)、電化學(xué)、色譜、波譜類分析技術(shù)都已從經(jīng)典的化學(xué)精密機械電子學(xué)結(jié)構(gòu)、實驗室內(nèi)人工操作應(yīng)用模式，轉(zhuǎn)化成光、機、電、算（計算機）體化、自動化的結(jié)構(gòu)，并向智能化、小型化、在線式及儀器聯(lián)用方向發(fā)展。天瑞公司在以已掌握的成熟的臺式X熒光光譜儀技術(shù)為基礎(chǔ)，結(jié)合外相關(guān)新的技術(shù)發(fā)展成果，研制出具有自主知識產(chǎn)權(quán)的EDX 3600K型X熒光光譜儀。

EDX 3600K X熒光光譜儀的亮點在于它大鈹窗超薄口的高分辨SDD探測器和自旋式的樣品腔，產(chǎn)品通過了江蘇省計量科學(xué)研究院的檢測，并通過中學(xué)會分析儀器分會組織的科技成果鑒定，技術(shù)達到際水平。

應(yīng)用領(lǐng)域

專為粉未冶煉行業(yè)研發(fā)的款設(shè)備，主要應(yīng)用在水泥冶煉、鋼鐵冶煉、礦冶煉(銅礦、鉛礦等)、鋁冶煉、玻璃制造、耐火材料分析、各種粉未冶金分析行業(yè)、石油勘探錄井分析領(lǐng)域。
同時在地質(zhì)、礦樣、冶金、稀土材料、環(huán)境監(jiān)測、有色金屬、食品、農(nóng)業(yè)等科研院所、大專院校和工礦企業(yè)中也得到廣泛應(yīng)用。

性能優(yōu)勢

1.超低能量分辨率，輕元素檢測效果更佳
使用大面積鈹窗電致冷SDD探測器，探測器分辨率達到139eV，各項指標(biāo)優(yōu)于家標(biāo)準(zhǔn)。SDD探測器具有良好的能量線
性、良好的能量分辨率，及良好的能譜特性，較高的峰背比；對Si、S、AI等輕元素的測試具有良好的分析精度。

2. 測試精度更高，檢出限更低
①專業(yè)化的樣品腔設(shè)計，帶可調(diào)速的自旋樣品腔，能的測定輕元素和減少樣品均性的影響，提高樣品的測試精度。
②采用超小超真空的樣品腔設(shè)計，測試時達到10Pa以下，使設(shè)備的測試范圍可從F元素起測試，大大地提高測試范圍、輕元素檢出限和精度。

3. 分析速度更快，從1秒即可得到定性定量結(jié)果
采用自主研發(fā)的數(shù)字多道技術(shù)，其線性計數(shù)率可達100kcps，可以更加快速的分析，從1秒就可以得出定性定量結(jié)果，
設(shè)計成高計數(shù)率，大大提高了設(shè)備的穩(wěn)定性。

4. 鍵式智能化操作
專業(yè)軟件，的FP法和EC法等多種方法嵌入的人性化的應(yīng)用軟件，具有高靈敏度、測試時間短、鍵智能化操作，使操作簡易，對操作人員限制小的特點。

5. 強大的自動化功能
①自動化程度高，具有自動開蓋、自動切換準(zhǔn)直器與濾光片等功能。
②采用自動穩(wěn)譜裝置，了儀器工作的致性：利用解譜技術(shù)使譜峰分解，采用多參數(shù)的線性回歸方法，使元素間的吸收、排斥效應(yīng)得到明顯的降低。

6. 強度校正法
具有多種測試模式設(shè)置和無限數(shù)目模式的自由添加，內(nèi)置強度校正方法，可校正幾何狀態(tài)不同和結(jié)構(gòu)密度不均勻的樣品造成的偏差。

7. 完善的光路系統(tǒng)
自主研發(fā)的光路系統(tǒng)，光程更短，光路損失更少，激發(fā)效果更佳。

8. 三重安防護功能
三重安防護功能，自動感應(yīng)，沒有樣品時儀器不工作，無射線泄漏；加厚防護測試壁；配送測試防護安罩。

9. 安警示系統(tǒng)
警告指示系統(tǒng)，通電時綠色指示燈亮，測試時黃色輻射指示燈閃爍，防止誤操作。

儀器配置

鈹窗電制冷SDD探測器
自旋式樣品腔
超薄窗X光管
超近光路增強系統(tǒng)
可自動開啟的測試蓋
自動切換型準(zhǔn)直器和濾光片
真空腔體
自動穩(wěn)譜裝置
90mm×70mm的液晶屏
的數(shù)字多道技術(shù)
多變量非線性回歸程序
相互獨立的基體效應(yīng)校正模型

技術(shù)參數(shù)

型號：EDX3600K
X射線源：50KV、1mA
樣品腔體積：Φ40.5mm×39.5mm
分析方法：能量色散X熒光分析方法
測量元素范圍：原子序數(shù)為9～92[氟（F）到鈾（U）]之間的元素均可測量
檢測元素：同時分析元素達三十多種，可根據(jù)客戶需要增加元素
含量范圍：ppm～99.99%
檢測時間：10秒以上
檢測對象：標(biāo)準(zhǔn)粉未壓片及可以放入標(biāo)準(zhǔn)樣品杯的固體、液體及粉末
探測器及分辨率：超大超薄的SDD探測器，分辨率 為144±5eV,可選配極速探測器至125eV
激發(fā)源：銠靶或鎢靶光管根據(jù)客戶需求可供選擇
測井環(huán)境：超真空系統(tǒng)，10秒可抽到10Pa以下
濾光片：6種濾光片組合自動切換
自旋裝置：可調(diào)速的自旋裝置
檢出限：對樣品中的大多數(shù)元素來說，檢出限達5～500ppm
真空系統(tǒng)：超真空系統(tǒng)，10秒可到10Pa
數(shù)據(jù)傳輸：數(shù)字多道技術(shù)，快速分析，高計數(shù)率
測試臺：360°電動旋轉(zhuǎn)式
保護系統(tǒng)：樣品腔為電動控制，上蓋打開時測試已完成
樣品放置：*的樣品杯設(shè)計，自帶壓環(huán)，可防止樣品晃動
數(shù)字多道技術(shù)：計數(shù)率>50kcps，計數(shù)率高至500kcps
外形尺寸及重量：669mm×540mm×874mm，90KG
操作環(huán)境濕度：≤90%
操作環(huán)境溫度：15℃～30℃

軟件優(yōu)勢

采用公司新的能譜EDXRF軟件，的FP法和EC法等多種方法嵌入的人性化的應(yīng)用軟件，具有高靈敏度、測試時間短、鍵智能化操作，操作簡易，對操作人員限制小的特點。
具有多種測試模式設(shè)置和無限數(shù)目模式自由添加，內(nèi)置強度校正方法，可校正幾何狀態(tài)不同和結(jié)構(gòu)密度不均勻的樣品造成的偏差。
新的軟件界面和內(nèi)核，采用FP和EC軟件組合的方法，應(yīng)用面更加廣泛。

定性與定量分析

              （）、定性分析
定性分析是X熒光光譜分析的基礎(chǔ)，因為只有從儀器獲得的譜圖中辨認(rèn)峰譜，才能知道待測試樣中還有那些元素，并且分析待測元素的主要譜線，以及常見的干擾譜線，以便選擇合適的測量譜線，用于定量分析方法，確定譜線的重疊校正方法，選擇校正元素，終達到測試樣品的效果。
定性分析的方法：
1、 判斷儀器的能量刻度是否正確，可以用已知元素的樣品進行測試，觀察是否能夠正確識別樣品中的元素。如果不正確，需要重新建立能量刻度。
2、 首先判斷X光管靶材的特征峰位。其峰位處的峰譜，可能不是樣品所含有的元素。
3、 分辨元素峰譜的K線和L線，般情況下，52＃（Te，碲）元素以前的元素，大多測試其K線，但35＃～52#之間的元素，其L線也可以被檢測出來，同時它的L線會對輕元素測量產(chǎn)生影響。52＃以后的元素般測試其L線。
4、 K線般有K線必然有K線，線的強度比例在5:1左右，L線必然有L、L…等4條線，在判斷是否是某元素時必須考慮這因素。
5、 觀察各個線之間的干擾，找到干擾的元素線系，并確定重疊干擾線之間的影響程度。
 
（二）、定量分析
              X熒光的定量分析可以簡化為以下公式，它受四種因素影響：
                                                 Ci＝KiIiMiSi
              式中：C為待測元素的濃度，下標(biāo)I式待測元素；K為儀器的校正因子；I式測得的待測元素X射線熒光強度，經(jīng)過背景、譜重疊和死時間校正后，獲得的純強度。M式元素間的吸收和增強效應(yīng)校正。S與樣品的物理形態(tài)有關(guān)，如試樣的均勻性、厚度、表面結(jié)果等，要通過制樣來消除。
       根據(jù)以上的簡化公式，可以將定量分析的方法分為以下幾個步驟：
①     根據(jù)樣品的物理形態(tài)和對分析精度與度要求，決定采用何種的制樣方法。確定了制樣方法后，應(yīng)了解制樣的誤差主要因素，應(yīng)該在方法中加以注意。
②     用標(biāo)準(zhǔn)樣品確定的分析條件，如：X射線管的管壓，管流，原級譜濾光片，測量時間等。
③     確定強度的提取方法。
④     制作工作曲線。
⑤     用標(biāo)準(zhǔn)樣品驗證分析方法的性及分析數(shù)據(jù)的不確定度。

廠家介紹

是專業(yè)生產(chǎn)ROHS檢測儀，氣相色譜質(zhì)譜聯(lián)用儀,鍍層測厚儀，電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀,ROHS分析儀，ROHS檢測儀，X射線鍍層測厚儀，，ROHS測量儀，液相色譜儀，ROHS2.0分析儀，XRF，X熒光光譜儀，汽油中硅含量檢測儀， ROHS檢測儀器，手持式合金分析儀等，涉及的儀器設(shè)備主要有EDX1800B,Thick800A，Thick8000，ICP2060T,GCMS6800，ICPMS2000等。