OLED單片器件的IVL 返回列表頁

弗士達(dá)OLED單片器件的IVL測(cè)試進(jìn)行單片OLED發(fā)光器件的I-V-L測(cè)試，如：電流密度、電壓、電流效率、流明效率、1931色坐標(biāo)、亮度、QE、光譜、電流、1976色坐標(biāo)，并可選配底板加熱，進(jìn)行高溫下的對(duì)應(yīng)測(cè)試

主要應(yīng)用于OLED材料和OLED屏體生產(chǎn)工廠，滿足客戶大批量的OLED器件的IVL特性和亮度視角特性測(cè)試需求。

測(cè)量方式：設(shè)定起始電壓，終止電壓，電壓步長(zhǎng)，進(jìn)行連續(xù)的測(cè)量；設(shè)定起始電流密度，終止電流密度，電流密度步長(zhǎng)，進(jìn)行連續(xù)測(cè)量；導(dǎo)入自定義電壓（或電流密度）列表，進(jìn)行連續(xù)測(cè)量；設(shè)定電流密度的亮度檢測(cè)下限值，低于下限值時(shí)僅測(cè)電流 電墳，超過下限值后同時(shí)測(cè)電壓電流亮度等數(shù)據(jù)。