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IC卡芯片檢測設(shè)備/銀聯(lián)卡芯片檢測儀器
IC卡檢測設(shè)備,銀聯(lián)卡性能測試儀器,智能卡檢測測試設(shè)備,銀聯(lián)卡檢測設(shè)備
一、IC卡檢測設(shè)備/銀聯(lián)卡性能測試儀器用途:
我公司專業(yè)生產(chǎn)、研發(fā)和銷售物理力學(xué)性能試驗(yàn)設(shè)備,公司生產(chǎn)的力學(xué)試驗(yàn)機(jī)系列產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于各種行業(yè)做理化檢測之用。是專業(yè)研發(fā)、設(shè)計(jì)、制造的IC卡動態(tài)反復(fù)彎曲扭轉(zhuǎn)試驗(yàn)機(jī)生產(chǎn)廠家。本產(chǎn)品適用于軌道交通卡、銀行磁卡、醫(yī)療保險卡、智能卡、地鐵卡、通訊卡、公交卡、會員卡等系列磁卡的反復(fù)彎曲扭轉(zhuǎn)試驗(yàn),主要用于大專院校、科研單位、質(zhì)量檢測中心、企業(yè)單位品質(zhì)檢測部門、實(shí)驗(yàn)室等磁卡的物理力學(xué)性能、工藝性能的測試和分板研究,深受廣大用戶青睞。
二、IC卡檢測設(shè)備/銀聯(lián)卡性能測試儀器介紹:
該儀器主要用于測試IC卡的彎曲、扭矩試驗(yàn),符合國標(biāo)GB/T 16649.1,國標(biāo)GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)。該試驗(yàn)機(jī)工位為15工位,其中5工位為長邊彎曲,5工位為短邊彎曲,5工位為扭曲試驗(yàn)。將計(jì)數(shù)次數(shù)增加到9999次,計(jì)數(shù)方法采用非接處光電計(jì)數(shù)(傳統(tǒng)采用開關(guān)量計(jì)數(shù)),將故障率幾乎降為0,彎曲量和扭轉(zhuǎn)角度任意可調(diào)。
二、IC卡檢測設(shè)備/銀聯(lián)卡性能測試儀器技術(shù)參數(shù):
1.測試速度:彎曲 扭曲30r/min及0.5Hz
2.測試周期:1~9999次
3.扭曲度 :±15°±1° 雙向d=86 mm
4.正反向各15°,總扭曲角度30°
5.夾具安裝尺寸*按照標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行。
6.外形尺寸:670×380×220mm
7.儀器重量:約70kg
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